薄膜电容器的自愈特性

薄膜电容器的自愈有两种不同的机理：一种是放电自愈；另一种是电化学自愈。放电自愈是发生在电压较高下，所以也称为高压自愈；电化学自愈在电压很低的情况下也出现，所以称为低压自愈。

1、放电自愈

假设在两个金属化电极间的薄膜中有一瑕疵点，电阻为R。按瑕疵点的性质，它可能是金属性瑕疵点，也可能是半导体或劣质绝缘性瑕疵点。当疵点是金属性瑕疵点时，在低电压下，电容器就已经发生放电自愈。而是半导体或劣质绝缘性瑕疵点时，才出现高压放电自愈。

2、电化学自愈

一般在低压下，薄膜电容器会出现这种自愈情况。这种自愈的机理如下：假设在金属化薄膜电容器的介质薄膜中有一瑕疵点，在电容器上加上电压以后，通过疵点将有较大的漏电流，表现为电容器的绝缘电阻远低于技术条件中的规定值。

因为薄膜电容器都有吸水率，而且在电容器制造、储存和使用过程中，电容器可能受潮，在漏电流中含有离子电流，也可能含有电子电流。所以在离子电流中会有相当一部分是因水被电解而产生的O2-离子和H-离子电流。O2-离子到达AL金属化阳极以后，与AL结合形成AL2O3。随着时间的增长，逐渐形成AL2O3绝缘层将疵点覆盖和隔离，从而电容器绝缘电阻大为加强，然而自愈。