薄膜电容器的损坏的原因

薄膜电容器是以金属箔当电极，将其和聚乙酯，聚丙烯烯或聚碳酸酯等塑料薄膜，从两端重叠后，卷绕成圆筒状的构造成的电容器，广泛被运用的同时也有被反映有损坏的想象发生，这些损坏包括可自愈损坏和不可自愈损坏。

薄膜电容器由于原材料及制造工艺等原因，早期损坏多由于制造原因。因为在制造过程中介质中可能存在杂质，机械损伤、针孔、清洁度低等问题，会引起的过电压，过电流及周围高、低温度的问题，这些问题便会导致薄膜电容薄弱点介质击穿。击穿时通常会产生火花，进一步的扩大范围，从而形成多层短路甚至整个元件短路。

与击穿元件串联的元件上的电压将会随之升高，从而使剩余的组上的电压随之升高，通过每个元件的电流也随之增大。这一系列的反应将导致各个元件的迅速老化，增加发热量。同时在较高电压作用下也将产生板边缘的局部放电。经过一定时间后，与故障元件串联的整个组的薄膜电容会相继击穿，又会有新的组被连接。组数进一步减少，元件电压进一步提高，过电流现象更为严重，介质进一步恶化，温度进一步升高，电弧会进而增大，如此下去，元件损坏越来越多，箱壳膨胀越来越严重。

薄膜电容器的厚度，也会影响着电容器的自愈性能。金属膜越薄，其自愈性能就越强，但与喷金层的结合就越脆弱。如果需要薄膜电容器具有良好的自愈性能，又要有足够的厚度以提高喷金强度，那么可以使用一种边缘加厚的薄膜电容，这种具有边缘加厚的金属化膜绕制芯子经得起浪涌电流的冲击，工作可靠性高，自愈性能好，使用寿命长，其理论寿命可达百年之久。