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薄膜电容器的损坏的原因

浏览数量:0     作者:本站编辑     发布时间: 2019-09-06      来源:本站

薄膜电容器是以金属箔当电极,将其和聚乙酯,聚丙烯烯或聚碳酸酯等塑料薄膜,从两端重叠后,卷绕成圆筒状的构造成的电容器,广泛被运用的同时也有被反映有损坏的想象发生,这些损坏包括可自愈损坏和不可自愈损坏。

 

薄膜电容器由于原材料及制造工艺等原因,早期损坏多由于制造原因。因为在制造过程中介质中可能存在杂质,机械损伤、针孔、清洁度低等问题,会引起的过电压,过电流及周围高、低温度的问题,这些问题便会导致薄膜电容薄弱点介质击穿。击穿时通常会产生火花,进一步的扩大范围,从而形成多层短路甚至整个元件短路。

 

与击穿元件串联的元件上的电压将会随之升高,从而使剩余的组上的电压随之升高,通过每个元件的电流也随之增大。这一系列的反应将导致各个元件的迅速老化,增加发热量。同时在较高电压作用下也将产生板边缘的局部放电。经过一定时间后,与故障元件串联的整个组的薄膜电容会相继击穿,又会有新的组被连接。组数进一步减少,元件电压进一步提高,过电流现象更为严重,介质进一步恶化,温度进一步升高,电弧会进而增大,如此下去,元件损坏越来越多,箱壳膨胀越来越严重。

 

薄膜电容器的厚度,也会影响着电容器的自愈性能。金属膜越薄,其自愈性能就越强,但与喷金层的结合就越脆弱。如果需要薄膜电容器具有良好的自愈性能,又要有足够的厚度以提高喷金强度,那么可以使用一种边缘加厚的薄膜电容,这种具有边缘加厚的金属化膜绕制芯子经得起浪涌电流的冲击,工作可靠性高,自愈性能好,使用寿命长,其理论寿命可达百年之久。


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