薄膜电容器使用时经常产生的问题

一、范围内电流选用不当

    范围内电流选用不当，产生较多的位置是直流维持和简谐振动部份。本质需要的电流值假如比薄膜电容器允许经过的电流值大，则会形成薄膜电容发热影响，长远高温作业，引起薄膜电容使用年限大大下降，严重的可能炸裂乃至是着火燃烧。在配置试验中，允许通过专属的电流探头或另外方法，测量一下实质需求的峰值电流，继而调动电容器的参数。可通过配置在功率退化测验中，勘测一下薄膜电容的温升，依据薄膜电容的温升允许参数来鉴定薄膜电容器的采选是否适合。

二、导线连接方式不当

    导线连接方式不当，关键产生在薄膜电容多只并联电路运用中。因为接线方法，走线间隔不同等原因，引起每个并联的薄膜电容在电子回路中分流不相同。表现在多个并联的薄膜电容，每个的温升都不相同。部分位置的薄膜电容温升太高，产生摧毁的意外。所以，必要对薄膜电容的并联行使进行适当的布线和连接，尽可能要做到平均，提升薄膜电容的使用年限。

三、超出规定的范围电压

    超出规定的范围电压，产生最多的方面是简谐振动部分。开发人员应当依照配置的使用功率，输入电压，电路拓扑，负荷磁导率，电子回路Q因子等参数当作综合思考后作初步打算。等到样机开始达到条件后，实质勘测一下配置在输出功率期间，薄膜电容器两边的电峰值，串联谐振等参数，进一步判断所采用的薄膜电容器型号和参数是否准确。