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薄膜电容器的自愈特性

浏览数量: 52     作者: 本站编辑     发布时间: 2020-01-20      来源: 本站

薄膜电容器的自愈有两种不同的机理:一种是放电自愈;另一种是电化学自愈。放电自愈是发生在电压较高下,所以也称为高压自愈;电化学自愈在电压很低的情况下也出现,所以称为低压自愈。


1、放电自愈


假设在两个金属化电极间的薄膜中有一瑕疵点,电阻为R。按瑕疵点的性质,它可能是金属性瑕疵点,也可能是半导体或劣质绝缘性瑕疵点。当疵点是金属性瑕疵点时,在低电压下,电容器就已经发生放电自愈。而是半导体或劣质绝缘性瑕疵点时,才出现高压放电自愈。


2、电化学自愈


一般在低压下,薄膜电容器会出现这种自愈情况。这种自愈的机理如下:假设在金属化薄膜电容器的介质薄膜中有一瑕疵点,在电容器上加上电压以后,通过疵点将有较大的漏电流,表现为电容器的绝缘电阻远低于技术条件中的规定值。


因为薄膜电容器都有吸水率,而且在电容器制造、储存和使用过程中,电容器可能受潮,在漏电流中含有离子电流,也可能含有电子电流。所以在离子电流中会有相当一部分是因水被电解而产生的O2-离子和H-离子电流。O2-离子到达AL金属化阳极以后,与AL结合形成AL2O3。随着时间的增长,逐渐形成AL2O3绝缘层将疵点覆盖和隔离,从而电容器绝缘电阻大为加强,然而自愈。


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