金属化薄膜电容器的氧化会导致其表面形成一层氧化物膜。这层氧化物膜通常是绝缘性质的，且比金属本身的电导率低。因此，当金属化薄膜电容器表面发生氧化时，这层氧化物膜会增加电容器的表面电阻（表面方阻），从而导致电容器的方阻增大。具体来说，氧化物膜的电阻通常比金属本身的电阻大几个数量级，这意味着当氧化物膜形成或增厚时，电容器的表面电阻会显著增加。这可能会影响电容器在电路中的性能，特别是在需要通过电容器表面进行电流传输或接地的情况下，可能会引起信号衰减或失真。因此，金属化薄膜电容器氧化时，其表面方阻会显著变大，这是需要在设计电路或者选择电容器时考虑到的因素之一。

金属化薄膜电容是以有机塑料薄膜做介质，以金属化薄膜做电极，通过卷绕方式制成（叠片结构除外）制成的电容，金属化薄膜电容器所使用的薄膜有聚乙酯、聚丙烯、聚碳酸酯等，除了卷绕型之外，也有叠层型。其中以聚酯膜介质和聚丙烯膜介质应用最广。金属化薄膜电容器是利用聚酯薄膜或聚丙烯薄膜作为介质，锌铝合金通过真空蒸镀方式将其附着在薄膜表面，形成电极。通过无感无极卷绕或叠片方式形成电容器。金属化薄膜电容器具有耐压高，高绝缘电阻，阻抗频率特性好（较小的寄生电感），较低的ESR，高容量稳定性，低损耗角正切。金属化薄膜电容器使用在电能表上起信号传输，耦合，降压等作用。金属化聚酯薄膜电容器作为耦合电容器由于其绝缘电阻高，

有不少客户会反应，怎么同样是采购一样的金属化薄膜电容，有的很耐用，寿命很长，可是有的却寿命很短。这是因为薄膜电容的寿命会受多方面影响的，了解清楚影响的因素并且采取手段可以很好提高电容器的寿命。 金属化薄膜电容器的容量大小由薄膜金属层面积的大小决定，所以容量的下降主要原因就是金属镀层受到各种外界因素影响、面积减少。一般情况下，影响金属化薄膜电容使用寿命的主要原因有三点：1.电压过高。2.用于高频。（频率高，介质损耗大，发热击穿）3.使用环境温度高。 金属化薄膜电容器是在介质上直接镀一层金属薄膜作为电极，即是金属化介质电容器。由于电极是被以蒸汽形式镀上去的金属膜，所以比以机械方式制作的铝箔薄的多。

金属化薄膜电容是我们生活中常见常用的电容器之一，金属化薄膜电容器拥有自愈性的的优越性能而被大家熟知，本文谈谈两个关键的点，造成薄膜电容的失效原因有哪些? 1.局部放电造成由于加工过程中介质中存在微小气隙，金属化电容器“过度自愈”造成气隙，导致金属化薄膜电容器在高电压作用下产生局部放电，电容器内部会迅速大量的热，来不及散发，又造成周围介质的进一步破坏，局部放电加剧，形成恶性循环。 2.损耗引起的电容器温升一个理想的电容器在工作时没有量耗散，但由于介质损耗和电容器内部金属电阻和接触电阻的存在，使电容器呈现明显的组态特性。在有负载时导致金属化薄膜电容器发热，并经电容器外表将热量散到周围环境中去，从中