浏览数量: 27 作者: 本站编辑 发布时间: 2018-03-23 来源: 本站
一、范围内电流选用不当
范围内电流选用不当,产生较多的位置是直流维持和简谐振动部份。本质需要的电流值假如比薄膜电容器允许经过的电流值大,则会形成薄膜电容发热影响,长远高温作业,引起薄膜电容使用年限大大下降,严重的可能炸裂乃至是着火燃烧。在配置试验中,允许通过专属的电流探头或另外方法,测量一下实质需求的峰值电流,继而调动电容器的参数。可通过配置在功率退化测验中,勘测一下薄膜电容的温升,依据薄膜电容的温升允许参数来鉴定薄膜电容器的采选是否适合。
二、导线连接方式不当
导线连接方式不当,关键产生在薄膜电容多只并联电路运用中。因为接线方法,走线间隔不同等原因,引起每个并联的薄膜电容在电子回路中分流不相同。表现在多个并联的薄膜电容,每个的温升都不相同。部分位置的薄膜电容温升太高,产生摧毁的意外。所以,必要对薄膜电容的并联行使进行适当的布线和连接,尽可能要做到平均,提升薄膜电容的使用年限。
三、超出规定的范围电压
超出规定的范围电压,产生最多的方面是简谐振动部分。开发人员应当依照配置的使用功率,输入电压,电路拓扑,负荷磁导率,电子回路Q因子等参数当作综合思考后作初步打算。等到样机开始达到条件后,实质勘测一下配置在输出功率期间,薄膜电容器两边的电峰值,串联谐振等参数,进一步判断所采用的薄膜电容器型号和参数是否准确。